Русский English
V международная конференция
«РАЗВИТИЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ В РОССИИ, СТРАНАХ БЫВШЕГО СССР И СЭВ»
Россия, Москва, НИУ ВШЭ, 6–8 октября 2020 года
Предоставление докладов на английском языке
ИНЭУМ: разработка программно-аппаратных средств диагностического контроля и верификации вычислительных систем

ИНЭУМ: разработка программно-аппаратных средств диагностического контроля и верификации вычислительных систем

Аннотация

В докладе рассматривается работа отдела диагностического контроля СВТ, созданного по инициативе первого директора ИНЭУМ И.С. Брука в конце пятидесятых годов двадцатого века. Основные направления работ отдела были связаны с разработкой и внедрением программных систем моделирования, синтеза и анализа тестов цифровых систем, программно-аппаратных средств внешнего контроля СВТ, программно-аппаратных средств моделирования и верификации СБИС и блоков элементов повышенной сложности.

Ключевые слова – тесты, аппаратура диагностического контроля, логическое моделирование.

I. Введение

В докладе рассматривается работа отдела диагностического контроля средств вычислительной техники ИНЭУМ за период от его создания в конце 50-х годов прошлого столетия по 1992 год. Отдел был организованпо инициативе директора ИНЭУМ И.С. Брука. Руководителем отдела был назначен доктор физико-математических наук Давид Матвеевич Гробман. И.С. Брук и Д.М. Гробман определили основные направления работ отдела: разработка методов и программных систем моделирования, синтеза и анализа тестов цифровых систем, а также разработка аппаратных систем и программно-аппаратных средств внешнего контроля средств вычислительной техники (СВТ). Кроме того, в начале 80-х годов в отделе получило развитие новое направление, связанное с разработкой программно-аппаратных средств моделирования и верификации СБИС и блоков элементов повышенной сложности. В данном докладе приводится обзор разработанных в отделе методов и подходов, связанных с созданием программных, аппаратных и программно-аппаратных средств диагностического контроля и верификации СВТ, приводятся некоторые технические характеристики данных средств.

II. Программные системы моделирования, синтеза и анализа тестов цифровых систем

Уже с первых шагов работы Д.М. Гробманом и его сотрудниками были разработаны математические методы и алгоритмы контроля цифровых систем. Эти методы основывались на подходе, сформулированном И.С. Бруком: «Тесты должны проверять не операции, а оборудование». Данный подход привел к необходимости решения следующих задач:

  • изучение наиболее вероятных неисправностей ЭВМ, возникающих при их изготовлении и эксплуатации;
  • моделирование логических схем с целью проверки правильности их функционирования и обнаружения критических состязаний под воздействием заданных тестов;
  • определение полноты тестов (анализ тестов), т. е. вычисление отношения числа проверяемых неисправностей выбранного класса к их общему числу в данной схеме;
  • автоматический синтез тестов для данного цифрового устройства;
  • локализация дефектных элементов.

Сотрудниками отдела были разработаны оригинальные методы сплошного и событийного двоичного, троичного и многозначного моделирования цифровых устройств, позволяющие обеспечить результаты идентичные реальным с учетом паразитных задержек элементов. Для ускорения процедур моделирования устройств был также предложен ряд способов, основывающихся на анализе структуры модели. В частности, были предложены алгоритмы ранжирования схем и разбиения схем на подсхемы.

В отделе был разработан ряд оригинальных методов синтеза и анализа тестов цифровых устройств. Данные методы синтеза и анализа тестов опирались на сформулированную Д.М. Гробманом гипотезу о редкой компенсации кратных отказов [1], из которой следует, что тест, выявляющий одиночные отказы, выявляет, как правило, и любое их сочетание. Благодаря этой гипотезе можно было при анализе и синтезе тестов цифровых устройств ограничиться рассмотрением класса одиночных, как правило, константных отказов и существенно упростить решение задачи, практически, не снижая его точности.

Сотрудниками отдела были предложены методы синтеза тестов, рассчитанные на применение как для комбинационных схем, так для схем с элементами памяти. Среди этих методов следует выделить универсальный метод синтеза псевдослучайных тестов, использующий сочетание генерации последовательностей псевдослучайных входных наборов и анализа результатов моделирования поведения цифровых устройств на данной последовательности входных наборов. Кроме того, были разработаны регулярные методы синтеза тестов, предназначенные для комбинационных схем и устройств с элементами памяти. Отдельно следует выделить оригинальный метод получения тестов отдельных блоков элементов на основании анализа результатов моделирования устройства, состоящего из данных блоков.

При анализе полноты тестов наряду с требующим значительных временных затрат классическим методом, основывающимся на сравнении результатов моделирования исправного устройства и устройства с отказами, в отделе был разработан ряд методов, позволяющих значительно сократить эти затраты. В частности, был разработан аналитический (дедуктивный) метод оценки полноты тестов с учетом их возможной некорректности. Применение данного метода в сочетании с классическим методом позволило существенно сократить время анализа тестов. Особенно эффективным оказался так называемый статистический метод. Данный метод позволял получить оценку полноты тестов на основе анализа результатов моделирования небольшого подмножества из всего множества имеющихся отказов. Был также предложен метод оценки полноты тестов, основывающийся на анализе результатов моделирования кратных отказов, применение которого также сокращало общее время анализа тестов.

Значительное внимание уделялось методам локализации отказов. Уже в конце 50-х годов были разработаны диагностические словари, позволяющие на основании полученных по завершении прогона теста данных контроля автоматически формировать список подозреваемых отказов. В дальнейшем применялись как двоичные, так и троичные диагностические словари, учитывающие возможную некорректность тестов. Также для локализации дефектов в устройствах, содержащих СИС, БИС и СБИС были разработаны так называемые мажоритарные словари, отличающиеся от стандартных словарей малыми затратами времени для их получения и значительной экономией памяти для их хранения. Кроме диагностических словарей для локализации отказов, были разработаны алгоритмы, основывающиеся на анализе связей между микросхемами устройства и метод статистической диагностики микропрограммных устройств.

Все разработанные в отделе методы были программно реализованы и включены в автоматизированные программные системы моделирования, синтеза и анализа тестов цифровых устройств. Для успешного функционирования эти системы должны были включать в себя:

  • ввод в ЭВМ и трансляцию цифровых устройств;
  • автоматически формируемый список наиболее вероятных неисправностей элементов вычислительных устройств;
  • синтез тестов с использованием автоматических регулярных и вероятностных методов, а также ввод дополнительных ручных тестов;
  • автоматическую оценку качества тестов (их полноту);
  • автоматическое вычисление эталонных реакций устройств на тестовые воздействия;
  • подготовку данных на носителе для реализации собственно процедуры контроля с помощью автоматических тестеров;
  • разработку диагностических словарей для обеспечения локализации обнаруженных дефектов.

Первая автоматизированная система была реализована в 1959 г. на ЭВМ М-2. Всего, начиная 1959 г., было создано пять программных автоматизированных систем моделирования, синтеза и анализа тестов с использованием ЭВМ М-2, БЭСМ-4, М-4030 (с адаптацией программ для ЕС ЭВМ). Каждая новая система качественно отличалась от предыдущих. Ее технические характеристики всегда отвечали современным требованиям. Постоянно усовершенствовались алгоритмы моделирования, синтеза и анализа тестов, пополнялась библиотека моделей стандартных элементов, наряду с вентильными появились и программные модели ИС, разработку которых удалось автоматизировать. Наиболее совершенной была последняя система, разработанная в отделе в начале 80-х годов. Она была рассчитана на моделирование, анализ и синтез тестов цифровых схем, у которых общее количество выходных контактов ИС достигало 30000 [2,3]. Это было существенным достижением для своего времени.

Разработанные в ИНЭУМ автоматизированные системы моделирования синтеза и анализа тестов использовались в Институте при отладке блоков элементов ЭВМ М-5, ЭВМ серии АСВТ-М, различных моделей СМ ЭВМ. Кроме ИНЭУМ данные системы использовались в НПО Агат, НИИ Счетмаш, НПО «Импульс», МАЗ «Дзержинец», на заводе САМ и в некоторых других организациях.

Среди тех, кто в течение десятилетий занимался разработкой данных автоматизированных программных систем, в первую очередь следует назвать следующих сотрудников отдела: Д.М. Гробман, Басок Б.М., Г.И. Благова, М.А. Бродский, С.М. Гаврилова, И.М. Гетманский, Г.А. Голубева, В.И. Золотаревский, М.И. Иоффе, А.Н. Киселева, И.В. Кузнецов, Ю.Г. Рабинович.

Необходимо также отметить роль при внедрении рассмотренных автоматизированных систем Бима А.Г. (МАЗ «Дзержинец», а впоследствии завод САМ) и Френкеля С.Л. (НПО «Импульс»). Их вклад в адаптацию данных систем на своих предприятиях с расширением возможностей применения оказался весьма существенным.

III. Аппаратные средства внешнего контроля цифровых блоков

Важнейшим направлением работ отдела было направление, связанное с разработкой технических средств автоматизации контроля ЭВМ. Возглавил это направление к.т.н. Борис Георгиевич Сергеев. Надо сказать, что в то время широкое распространение получили программные методы контроля и диагностики неисправностей. Главным недостатком этих методов было то, что они полностью базировались на использовании рабочих цепей контролируемой ЭВМ. В этом случае контролируемая ЭВМ брала на себя все функции управления процессом контроля и оценки полученных результатов.

Б.Г. Сергеев сразу оценил, что если эти функции передать специальному устройству и обеспечить непосредственный доступ к контролируемым цепям ЭВМ, минуя обычные пути, предусмотренные организацией процесса обработки информации, возникают большие возможности для объективного и эффективного контроля и диагностики. Уже в самом начале 60-х годов Б.Г. Сергеевым и его группой в короткие сроки был разработан и передан в эксплуатацию один из первых отечественных тестеров функционального контроля – Устройство контроля и автоматического поиска неисправностей логических схем (УКИН) [4]. Входными данными для этого тестера были полученные с помощью разработанной в отделе автоматизированной системы синтеза и анализа тестов тестовые воздействия и ожидаемые реакции на них контролируемого устройства, а также диагностические словари.

Конечно, это было далеко несовершенное устройство, поскольку возможности разработчика были ограничены имеющейся в то время элементной и конструкторской базой, а также используемыми устройствами ввода-вывода (ввод с перфоленты, выдача результатов контроля с помощью ламп-индикаторов). Однако уже в этом варианте были применены такие по тем временам оригинальные решения, как автоматическая коммутация каналов ввода/вывода данных, автоматическое формирование кода неисправности для поиска в диагностических таблицах.

В дальнейшем, анализируя результаты внедрения в практику данного тестера, а также те трудности, которые возникли перед разработчиками программ автоматизированного синтеза и анализа тестов цифровых устройств, Б.Г. Сергеев сформулировал основополагающие принципы создания универсальных программируемых автоматических тестеров, способных обеспечить эффективный внешний контроль современных вычислительных устройств и систем. Эти идеи и подходы были реализованы при разработке двух тестеров функционального и параметрического контроля: Автоматизированного устройства произ-водственного контроля (АУПК) в конце 60-х – начале 70-х годов и Агрегатного проверочного комплекса (АПК-1) в середине 70-х годов.

АУПК использовался при наладке Типовых элементов замены (ТЭЗов) АСВТ-М. АПК-1применялся при наладке как ТЭЗов АСВТ-М, так и при отладке блоков элементов СМ ЭВМ. Эти тестеры были внедрены на предприятиях Министерства Приборостроения ВУМ (Киев) и Энергоприбор (Москва), а также на МАЗ «Дзержинец». Использовались они и разработчиками ИНЭУМ. АУПК и АПК-1принадлежали к одному поколению тестеров с похожей архитектурой. Поскольку АПК-1 обладал существенно большим набором возможностей чем АУПК, был выполнен с применением современной для того времени элементной базы и использовался не один год, о нем следует упомянуть особо.

АПК-1основывался на процессоре, разработанном специально для решения задач функционального статического и параметрического допускного контроля, способном взаимодействовать с различными источниками программ контроля (перфолента, ПЗУ, накопитель на магнитной ленте). Данный процессор управлял:

  • прозвонкой цепей контролируемого блока;
  • приложением входных воздействий;
  • логической и арифметической обработкой результатов контроля;
  • формированием диагностических кодов неисправностей;
  • индикацией результатов проверки.

Обмен данными между контролируемым объектом и процессором в АПК-1 осуществлялся через специальные универсальные каналы связи. Каждый канал состоял из двух подканалов: формирователя входных воздействий и компаратора эталонных и снимаемых реакций. Число каналов в зависимости от количества контактов объекта могло изменяться от 64 до 256. Контролируемый объект подключался к АПК- 1 через специальный блок сопряжения. Тип блока сопряжения определялся конструктивом объекта. АПК-1работал в автономном режиме, но была предусмотрена возможность подключения к универсальной ЭВМ через специальный адаптер.

Постоянное усложнение объектов контроля, вызванное применением микропроцессорных БИС, разнообразие интерфейсов этих объектов, а также необходимость организации проверки на частотах, близких к рабочим, потребовали создания универсальных тестеров нового поколения, способных обеспечить контроль и диагностику цифровых устройств в соответствии с новыми требованиями. Поэтому в отделе в начале восьмидесятых годов был разработан и внедрен универсальный динамический тестер АМЦ0555 – комплекс функционального контроля (КФК) [3,5,6].

КФК предназначался в первую очередь для производственного диагностического контроля блоков элементов СМ ЭВМ. КФК располагал следующими возможностями:

  • динамическая (с частотой до 5 МГц) функциональная проверка цифровых устройств с помощью произвольных, алгоритмических и псевдослучайных тестов;
  • динамическое объединение указанных типов тестов в тестовые последовательности, в которых для каждого вывода объекта может быть выбран свой тип теста;
  • двусторонний обмен данными с каждым выводом с возможностью переключения направления передачи данных в любом такте высокочастотной проверки;
  • реализация любого требуемого алгоритма синхронного или асинхронного обмена с объектом в соответствии с его интерфейсом;
  • интерактивного режима работы, при котором объект управляет процессом контроля, а КФК эмулирует его внешнюю среду;
  • наличие различных способов контроля поведения объектов (сравнение его реакций с хранимыми или алгоритмическими генерируемыми эталонными реакциями, сравнение с эталонным объектом, сигнатурный анализ);
  • диагностика неисправностей с применением программно "ведомого" пробника.

КФК был предназначен для контроля объектов, имеющих до 192 выводов. Он мог работать автономно или под управлением ЭВМ СМ-4 в режиме разделения времени. В последнем случае предусматривалась возможность для подключения к СМ ЭВМ до 20 КФК. Отечественных тестеров с таким набором функций до сих пор не было. Соисполнителями в этой работе были ПФ ВНИТИ прибор (Пенза) и СКТБ СА ПО "Сигма" (Вильнюс), которые наладили производство КФК. КФК использовался для отладки блоков элементов СМ 1600 и СМ 1700, а также блоков элементов ЭВМ специального назначения.

Практически одновременно с КФК был предложен малогабаритный тестер логических блоков (МТЛБ) АМЦ0561 для оснащения выездных бригад и передвижных лабораторий обслуживания ЭВМ [7].

Несмотря на малые габариты, МТЛБ был универсальным тестером с большими возможностями для организации эффективного контроля блоков ЭВМ. Он обеспечивал полностью функциональный автоматический контроль блоков в статическом режиме с использованием произвольных тестов, задаваемых указанием всех наборов или программно-генерируемых по заданному алгоритму. Анализ реакций контролируемого блока осуществлялся путем сравнения с аналогичными задаваемыми эталонными реакциями или сигнатурным способом. В МТЛБ была реализована программная эмуляция (в трансформированном режиме) синхронных и асинхронных интерфейсов проверяемых объектов. Поиск неисправностей в МТЛБ велся с помощью либо диагностических словарей, либо программно-управляемого пробника.

Для сопряжения с проверяемым блоком МТЛБ имел 128 двунаправленных каналов. Управление работой тестера осуществляла встроенная 16-разрядная ЭВМ "Электроника-60". Программное обеспечение (ПО) тестера и программы контроля блоков элементов хранились на магнитной ленте и загружались в оперативную память МТЛБ со встроенного кассетного магнитофона. Впоследствии вместо магнитофона использовался накопитель на гибких магнитных дисках. Конструктивно тестер был выполнен в виде чемодана с габаритами 160х360х520 мм. Масса тестера – около 15 кг.

Разработка велась совместно с ВНИТИ прибор (Пенза). В Пензе было организовано и производство МТЛБ. Он изготавливался и внедрялся на основе договоров с заказчиками.

В это же время появились специальные инструментальные средства, применение которых обеспечивало доступ к выводам любой ИС на цифровой плате. Это, безусловно, упрощало процедуру диагностического контроля. К данным средствам можно отнести всевозможные одноканальные и многоканальные пробники для индикации и генерирования логических сигналов. Среди этих инструментальных средств следует выделить игольчатый адаптер или так называемое "ложе из гвоздей". Адаптер представлял собой устройство, выводы которого, выполненные в виде иголочек, подключались к контактным площадкам всех интегральных схем, установленных на плате. Основная сложность при изготовлении такого адаптера заключалась в том, чтобы обеспечить надежное механическое соединение каждой иголки с соответствующей контактной площадкой платы. Считалось, что в наших условиях изготовить такой адаптер практически невозможно. По инициативе Б. Г.Сергеева и при его непосредственном участии в отделе микроэлектроники ИНЭУМ замечательный мастер-механик А.И. Ломов впервые в отечественной практике изготовил такой адаптер.

В заключение следует назвать фамилии сотрудников отдела, вклад которых в разработку описанной выше аппаратуры, ее программного и тестового обеспечения был наиболее весомым: Д.М. Гробман, Б.Г. Сергеев, Б.М. Басок, Е.П. Березов, JI.3. Гендин, И.М. Гетманский, И.В. Кузнецов, Г.И. Танетов, В.Г. Чучман, А.Ф. Шипулин.

IV. Программно-аппаратные средства моделирования и верификации цифровых системы 

Накопленный в отделе богатый научно-практический опыт в области моделирования СВТ в дальнейшем был использован при разработке адаптера аппаратной библиотеки и специализированного

комплекса-ускорителя моделирования цифровых схем.
В начале 80-х годов в СССР начался бурный рост производства БИС и СБИС и их широкое

применение в отечественных разработках. Существующие в то время программные системы моделирования на универсальных ЭВМ оказались неспособными удовлетворить как запросы разработчиков собственно СБИС, так и разработчиков устройств, содержащих БИС и СБИС. В первом случае это было обусловлено чрезвычайно большими затратами времени ЭВМ при моделировании, во втором – большими затратами вре-мени при создании библиотек моделей СБИС.

Для ликвидации указанных недостатков по инициативе Б.Г. Сергеева в отделе впервые в отечественной практике были разработаны адаптер аппаратной библиотеки и многопроцессорный комплекс – ускоритель логического моделирования СБИС (УЛМ).

Адаптер предназначался для моделирования дискретных устройств, содержащих СБИС, и основывался на применении наряду с чисто программными моделями физических образцов ИС, снабженных программными оболочками, предназначенными для обмена данными с другими элементами модели устройства [8].

В конце восьмидесятых годов в ИНЭУМе был изготовлен адаптер аппаратной библиотеки, содержащий 1024 канала для подключения физических образцов с максимальной рабочей частотой для динамических каналов 10 МГц. Объем буферных ЗУ на каждый канал составлял 64 Кбит. Адаптер содержал комплект интерфейсных модулей, позволяющих подключать его практически к любой ЭВМ.

Базовое ПО адаптера включало следующие компоненты: драйвер обмена данными, язык и компилятор программных оболочек, средства настройки программных оболочек на адреса каналов, средства тестирования физических образцов и отладки программных оболочек.

Адаптером заинтересовались создатели программных систем моделирования ряда ведущих организаций в области средств вычислительной техники, в частности НИИАА, ЦКБ «Алмаз», НПО «Квант» и др. Они мгновенно оценили те преимущества, которые должен был предоставить им адаптер. Были заключены договоры на изготовление адаптера и подключение его к функционирующим в этих организациях системам моделирования.

УЛМ обеспечивало ускорение процесса моделирования проектируемых СБИС по сравнению с программными системами моделирования на два-три порядка. Это достигалось благодаря аппаратной реализации алгоритма временного событийного многозначного моделирования, конвейерной обработки данных и многопроцессорной архитектуры [9,10].

УЛМ было рассчитано на использование в составе как действующих, так и вновь разрабатываемых САПР на базе вычислительных комплексов (ВК) СМ-1700 и других совместимых с ними ВК («Электроника- 82», VAX фирмы DEC).

В состав УЛМ входило до 15 однотипных параллельно работающих процессоров моделирования, каждый из которых был рассчитан на моделирование более чем 64000 базовых элементов (примитивов) УЛМ. Примитивами УЛМ были вентили, транзисторы, резисторы, конденсаторы, триггеры, монтажные соединения И/ИЛИ, элементы одно- или четырехразрядных ЗУ емкостью до 128 Кбит.

Программное обеспечение УЛМ обеспечивало программный интерфейс между ускорителем и средой САПР, к которой он подключался. Руководил разработкой программного обеспечения УЛМ к.т.н. М.А.Бродский. Функционирование УЛМ постоянно находилось под контролем программной тест-мониторной системы, созданной под руководством и непосредственном участии к.т.н. Б. М. Баска.

Во второй половине восьмидесятых годов в ИНЭУМ были изготовлены два промышленных образца УЛМ – СМ 05.13, содержащий процессор обмена и два параллельно работающих конвейерных процессора аппаратного моделирования с распределенной памятью, и СМ 05.13.01, содержащий процессор обмена и один процессор моделирования. В конце восьмидесятых были изготовлены еще два образца УЛМ (один по заказу ИПИ АН СССР) в настольном исполнении для работы с ПЭВМ. Этот вариант содержал ПВМ, рассчитанный на 32 000 примитивов.

В 1990–1991 гг. решался вопрос о серийном изготовлении УЛМ. Среди потенциальных заказчиков были предприятия Москвы, Зеленограда, Минска, Киева и другие. В дальнейшем предполагалось начать создание специализированных многопроцессорных комплексов анализа и синтеза тестов цифровых устройств.

Среди сотрудников отдела, вклад которых в разработку аппаратно-программных комплексов моделирования был наиболее существенным, следует выделить Д.М. Гробмана, Б.Г. Сергеева, Б.М. Баска, М.А. Бродского, Е.П. Березова, И.В. Вольвовского, И.М. Гетманского, В.Н. Гусарова, Е.А. Каплунова, Ю.Г. Рабиновича, Г.И. Танетова, Д.Ю. Тоблера, В.Г. Чучмана.

V. Выводы и заключение


В данной статье была рассмотрена работа отдела диагностического контроля СВТ ИНЭУМ в

течение почти 40 лет, начиная с конца 50-х годов прошлого столетия. За это время сотрудникам отдела удалось внести существенный вклад в развитие отечественных систем автоматизации проектирования средств вычислительной техники и диагностического контроля цифровых устройств.

В течение рассматриваемого в докладе времени сотрудниками отдела под руководством Д.М.Гробмана было защищено более десяти кандидатских диссертаций, опубликовано значительное количество научных статей, защищен ряд авторских свидетельств. Результаты работы коллектива представлялись на различных выставках, докладывались на международных и всесоюзных конференциях, назаседании Научного совета по системам автоматизированного проектирования вычислительной техники и больших интегральных схем АН СССР и везде получали высокую оценку и признание коллег.

Все, разработанные в отделе программные и технические средства контроля и верификации цифровых устройств были внедрены на предприятиях Министерства приборостроения СССР и в ряде других организаций.

В заключение следует отметить, что ряд разработанных в отделе методов и алгоритмов, для тестирования СВТ, был в дальнейшем использован для тестирования программных систем.В частности, уже во второй половине 90-х годов и в 2000-ые годы, были применены методы оценки полноты тестов и методы анализа результатов тестирования цифровых систем при оценке уровня качества тестирования программ[11,12].

Источник финансирования. Благодарности

Работа выполнена при частичной финансовой поддержке РФФИ проект No 18-07-00669.

Список литературы

  1. Гробман Д.М. Программный контроль и диагностика неисправностей ЦВМ. //Диагностика неисправностей вычислительных машин. М.: Наука, 1965,с. 7 – 22.
  2. Гробман Д.М., Сергеев Б.Г., Филинов Е.Н. Система программ и технических средств для контроля цифровых схем. // Вычислительная техника социалистических стран. М.: Статистика, 1979, вып. 5, с. 27 –37.

  3. Гробман Д.М., Сергеев Б.Г., Бродский М.А. Система программных и аппаратных средств контроля логических устройств. // VIII Всесоюзная школа-семинар по технической диагностике. Тезисы докладов. Рига, 1981, с. 18 – 21.

  4. Сергеев Б.Г. Устройство контроля и автоматического поиска неисправностей логических схем. //Диагностика неисправностей вычислительных машин. М.: Наука, 1965,с. 115 – 132.

  5. Сергеев Б.Г., Шумский Л.Д. Универсальная аппаратура для динамического функционального контроля сложных логических блоков. // Приборы и системы управления, 1984, No 3, с. 20 – 22.

  6. Сергеев Б.Г., Басок Б.М. Контроль и диагностика ЭВМ. // М.: Знание, Серия «Радиоэлектроника и связь», 1986, No 10, 83 с.

  7. Сергеев Б.Г., Шумский Л.Д. Портативный тестер функционального контроля для цифровых устройств.// Приборы и системы управления, 1985, No 1, с. 34 – 36.

  8. Сергеев Б.Г., Басок Б.М. Использование адаптера аппаратной библиотеки БИС для моделирования сложных цифровых блоков. // Вопросы радиоэлектроники серия ЭВТ, 1990, вып. 17, с. 61 – 65.

  9. Сергеев Б.Г. Аппаратное ускорение моделирования СБИС // Микроэлектроника, т.18, вып.6, 1989, с. 554- 560.

  10. Бродский М.А., Каплунов Е.А. Организация проектирования дискретных устройств программно-техническом комплексе «Ускоритель» // Вопросы радиоэлектроники серия ЭВТ, 1990, вып. 17, с. 66 – 67. 

  11. Басок Б.М., Гречин А.А.О едином подходе при анализе тестов дискретных устройств и программ. Вопросы радиоэлектроники. Серия ЭВТ, 2010, вып. 3, с. 140-145.

  12. Басок Б.М., Захаров В.Н., Френкель С.Л. Итерационный подход к повышению качества тестирования программ // Российский технологический журнал. Электронное сетевое издание, 2017, Том 5, No4, с. 3-12, https://www.rtj-mirea.ru/jour/issue/view/10.

Об авторе: МИРЭА – Российский технологический университет
basok@mirea.ru
Материалы международной конференции Sorucom 2020
автора 13.06.2021